Forskning ved Københavns Universitet - Københavns Universitet

Forside

Detection of sub-pixel fractures in X-ray dark-field tomography

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningfagfællebedømt

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftApplied Physics A: Materials Science & Processing
Vol/bind121
Udgave nummer3
Sider (fra-til)1243-1250
ISSN0947-8396
DOI
StatusUdgivet - 2 nov. 2015

ID: 153050458