Forskning ved Københavns Universitet - Københavns Universitet

Forside

Micro-Raman spectroscopy for the detection of stacking fault density in InAs and GaAs nanowires

Publikation: Forskning - peer reviewTidsskriftartikel

Rawa Tanta, Caroline Lindberg, Sebastian Lehmann, Jessica Bolinsson, Miguel R. Carro-Temboury, Kimberly A. Dick, Tom Vosch, Thomas Sand Jespersen, Jesper Nygard

OriginalsprogEngelsk
Artikelnummer165433
TidsskriftPhysical Review B
Vol/bind96
Tidsskriftsnummer16
ISSN1098-0121
DOI
StatusUdgivet - 19 okt. 2017

ID: 185228649